適合檢測現(xiàn)代轉(zhuǎn)化膜,測量的Zr 和 Ti 在鋼、鍍鋅鋼或鋁合金等不同基體上的預(yù)期值和測量值之間取得了良好的相關(guān)性和一致性。與尼通XL3t手持式光譜儀的經(jīng)驗校準(zhǔn)法相比,基本參數(shù)模式更易于使用,更靈活,并且不需要許多參考樣品。無需標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行校準(zhǔn),僅使用每種涂層類型的少量樣品進(jìn)行檢測,即可獲得準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。如果需要更高精度,用戶可以微調(diào)分析儀的配置曲線,達(dá)到更好準(zhǔn)確度。